《Ieee Design & Test》雜志是幾區(qū)？

中科院分區(qū)在SCI期刊中具有重要地位，主要體現(xiàn)在以下幾個方面：

投稿參考：中科院分區(qū)為科研人員選擇投稿期刊提供了重要依據(jù)。高分區(qū)期刊通常具有較高的學術(shù)聲譽和影響力，科研人員可以根據(jù)自己的研究領(lǐng)域和成果水平，選擇合適分區(qū)的期刊投稿，提高論文被接受和發(fā)表的機會。

學術(shù)評價：國內(nèi)許多高校和科研機構(gòu)在對科研人員進行績效考核、職稱評定、科研獎勵等方面，常常將中科院分區(qū)作為重要的評價指標之一。

學術(shù)影響力提升：進入中科院分區(qū)表是對期刊學術(shù)質(zhì)量和影響力的一種認可，尤其是對于一些新興期刊或發(fā)展中的期刊來說，獲得較好的分區(qū)能夠吸引更多優(yōu)秀的稿件和讀者，進一步提升期刊的學術(shù)影響力。

雜志簡介

《Ieee Design & Test》是一本在工程技術(shù)領(lǐng)域具有重要影響力的學術(shù)期刊，由出版社IEEE Computer Society出版，出版地區(qū)為：UNITED STATES。

一、基本信息

創(chuàng)刊時間：2013年
出版周期：6 issues/year
ISSN：2168-2356，E-ISSN：2168-2364

定位：

《IEEE 設(shè)計與測試》提供原創(chuàng)作品，介紹用于設(shè)計和測試微電子系統(tǒng)（從設(shè)備和電路到完整的片上系統(tǒng)和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側(cè)重于當前和近期的實踐，包括教程、操作方法文章和真實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術(shù)進步以及技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者的觀點。主題包括半導(dǎo)體 IC 設(shè)計、半導(dǎo)體知識產(chǎn)權(quán)模塊、設(shè)計、驗證和測試技術(shù)、制造和產(chǎn)量設(shè)計、嵌入式軟件和系統(tǒng)、低功耗和節(jié)能設(shè)計、電子設(shè)計自動化工具、實用技術(shù)和標準。

二、內(nèi)容特色

內(nèi)容特色：文章風格兼顧專業(yè)性與可讀性，適合不同背景的讀者。

三、學科領(lǐng)域與覆蓋范圍

主要學科：工程技術(shù)-計算機：硬件。
覆蓋范圍：該刊發(fā)文范圍涵蓋COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE等領(lǐng)域。

四、學術(shù)影響力與評價

影響因子與分區(qū)：《Ieee Design & Test》雜志的影響因子為1.9 ，JCR分區(qū)：Q3區(qū)，中科院分區(qū)：大類學科：工程技術(shù)，分區(qū)：4區(qū)，小類學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機：硬件，分區(qū)：4區(qū)。

發(fā)文量與Gold OA占比：年發(fā)文量：59，Gold OA文章占比：6.08%。