《Ieee Design & Test》雜志是幾區？

中科院分區在SCI期刊中具有重要地位，主要體現在以下幾個方面：

投稿參考：中科院分區為科研人員選擇投稿期刊提供了重要依據。高分區期刊通常具有較高的學術聲譽和影響力，科研人員可以根據自己的研究領域和成果水平，選擇合適分區的期刊投稿，提高論文被接受和發表的機會。

學術評價：國內許多高校和科研機構在對科研人員進行績效考核、職稱評定、科研獎勵等方面，常常將中科院分區作為重要的評價指標之一。

學術影響力提升：進入中科院分區表是對期刊學術質量和影響力的一種認可，尤其是對于一些新興期刊或發展中的期刊來說，獲得較好的分區能夠吸引更多優秀的稿件和讀者，進一步提升期刊的學術影響力。

雜志簡介

《Ieee Design & Test》是一本在工程技術領域具有重要影響力的學術期刊，由出版社IEEE Computer Society出版，出版地區為：UNITED STATES。

一、基本信息

創刊時間：2013年
出版周期：6 issues/year
ISSN：2168-2356，E-ISSN：2168-2364

定位：

《IEEE 設計與測試》提供原創作品，介紹用于設計和測試微電子系統（從設備和電路到完整的片上系統和嵌入式軟件）的模型、方法和工具。該雜志側重于當前和近期的實踐，包括教程、操作方法文章和真實案例研究。該雜志力求通過專欄、訪談和圓桌討論，向讀者介紹重要的技術進步以及技術領導者的觀點。主題包括半導體 IC 設計、半導體知識產權模塊、設計、驗證和測試技術、制造和產量設計、嵌入式軟件和系統、低功耗和節能設計、電子設計自動化工具、實用技術和標準。

二、內容特色

內容特色：文章風格兼顧專業性與可讀性，適合不同背景的讀者。

三、學科領域與覆蓋范圍

主要學科：工程技術-計算機：硬件。
覆蓋范圍：該刊發文范圍涵蓋COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE等領域。

四、學術影響力與評價

影響因子與分區：《Ieee Design & Test》雜志的影響因子為1.9 ，JCR分區：Q3區，中科院分區：大類學科：工程技術，分區：4區，小類學科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE計算機：硬件，分區：4區。

發文量與Gold OA占比：年發文量：59，Gold OA文章占比：6.08%。