來源:學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:38:23
《Ieee Transactions On Device And Materials Reliability》中文名稱:《IEEE Transactions on Device and Materials Reliability》,創(chuàng)刊于2001年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,出版周期Quarterly。
出版物的范圍包括但不限于以下方面的可靠性:設(shè)備、材料、工藝、接口、集成微系統(tǒng)(包括 MEMS 和傳感器)、晶體管、技術(shù)(CMOS、BiCMOS 等)、集成電路(IC、SSI、MSI、LSI、ULSI、ELSI 等)、薄膜晶體管應(yīng)用。從概念階段到研發(fā)再到制造規(guī)模,在每個(gè)階段對(duì)這些實(shí)體的可靠性進(jìn)行測(cè)量和理解,為成功將產(chǎn)品推向市場(chǎng)提供了設(shè)備、材料、工藝、封裝和其他必需品的可靠性的整體數(shù)據(jù)庫。這個(gè)可靠性數(shù)據(jù)庫是滿足客戶期望的優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品的基礎(chǔ)。這樣開發(fā)的產(chǎn)品具有高可靠性。高質(zhì)量將實(shí)現(xiàn),因?yàn)楫a(chǎn)品弱點(diǎn)將被發(fā)現(xiàn)(根本原因分析)并在最終產(chǎn)品中設(shè)計(jì)出來。這個(gè)不斷提高可靠性和質(zhì)量的過程將產(chǎn)生卓越的產(chǎn)品。歸根結(jié)底,可靠性和質(zhì)量不是一回事;但從某種意義上說,我們可以做或必須做一切事情來保證產(chǎn)品在客戶條件下在現(xiàn)場(chǎng)成功運(yùn)行。我們的目標(biāo)是抓住這些進(jìn)步。另一個(gè)目標(biāo)是關(guān)注電子材料和設(shè)備可靠性的最新進(jìn)展,并提供對(duì)影響可靠性的基本現(xiàn)象的基本理解。此外,該出版物還是可靠性跨學(xué)科研究的論壇。總體目標(biāo)是提供前沿/最新信息,這些信息與可靠產(chǎn)品的創(chuàng)造至關(guān)重要。
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