來源：學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:50
《Ieee Transactions On Very Large Scale Integration (vlsi) Systems》中文名稱：《超大規(guī)模集成 (vlsi) 系統(tǒng)上的 Ieee 事務(wù)》，創(chuàng)刊于1993年，由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版，出版周期Bimonthly。
《IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報》是一份月刊，由 IEEE 電路與系統(tǒng)學(xué)會、IEEE 計算機學(xué)會和 IEEE 固態(tài)電路學(xué)會共同贊助出版。
使用 VLSI/ULSI 技術(shù)設(shè)計和實現(xiàn)微電子系統(tǒng)需要系統(tǒng)架構(gòu)、邏輯和電路設(shè)計、芯片和晶圓制造、封裝、測試和系統(tǒng)應(yīng)用等領(lǐng)域的科學(xué)家和工程師密切合作。必須在所有抽象級別（包括系統(tǒng)、寄存器傳輸、邏輯、電路、晶體管和工藝級別）生成規(guī)范、設(shè)計和驗證。
為了通過一個共同的論壇解決這一關(guān)鍵領(lǐng)域，IEEE VLSI 系統(tǒng)學(xué)報應(yīng)運而生。由國際專家組成的編輯委員會誠邀提交原創(chuàng)論文，這些論文強調(diào)并贊揚微電子系統(tǒng)的新系統(tǒng)集成方面，包括系統(tǒng)設(shè)計和分區(qū)、邏輯和內(nèi)存設(shè)計、數(shù)字和模擬電路設(shè)計、布局綜合、CAD 工具、芯片和晶圓制造、測試和封裝以及系統(tǒng)級鑒定之間的相互作用。因此，這些交易的報道將集中在 VLSI/ULSI 微電子系統(tǒng)集成上。
旨在及時、準(zhǔn)確、全面地報道國內(nèi)外COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動態(tài)等。
| 機構(gòu)名稱 | 發(fā)文量 |
| INDIAN INSTITUTE OF TEC... | 50 |
| UNIVERSITY OF CALIFORNI... | 33 |
| NANYANG TECHNOLOGICAL U... | 27 |
| PURDUE UNIVERSITY SYSTE... | 23 |
| UNIVERSITY SYSTEM OF GE... | 23 |
| STATE UNIVERSITY SYSTEM... | 19 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIE... | 17 |
| FUDAN UNIVERSITY | 17 |
| HELMHOLTZ ASSOCIATION | 16 |
| YONSEI UNIVERSITY | 16 |
| 國家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
| USA | 300 |
| CHINA MAINLAND | 163 |
| India | 72 |
| Taiwan | 70 |
| South Korea | 67 |
| Canada | 46 |
| GERMANY (FED REP GER) | 42 |
| Singapore | 38 |
| Iran | 36 |
| Japan | 24 |
| 文章引用名稱 | 引用次數(shù) |
| Novel Systolization of Subqu... | 58 |
| Optimizing the Convolution O... | 27 |
| Computing in Memory With Spi... | 22 |
| A High-Throughput and Power-... | 19 |
| Self-Optimizing and Self-Pro... | 13 |
| Low-Power and Fast Full Adde... | 13 |
| Systematic Design of an Appr... | 12 |
| Robust Design-for-Security A... | 12 |
| Experimental Investigation o... | 12 |
| Radiation-Hardened 14T SRAM ... | 12 |
| 被引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T VLSI SYST | 397 |
| IEEE ACCESS | 312 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 261 |
| INTEGRATION | 173 |
| IEEE T COMPUT AID D | 134 |
| ELECTRONICS-SWITZ | 123 |
| IEEE T CIRCUITS-II | 110 |
| MICROELECTRON J | 107 |
| IEICE ELECTRON EXPR | 106 |
| J CIRCUIT SYST COMP | 105 |
| 引用期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 610 |
| IEEE T VLSI SYST | 397 |
| IEEE T COMPUT AID D | 259 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 258 |
| IEEE T CIRCUITS-II | 162 |
| IEEE T COMPUT | 131 |
| IEEE T ELECTRON DEV | 114 |
| P IEEE | 80 |
| ELECTRON LETT | 60 |
| IEEE T POWER ELECTR | 44 |
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