來(lái)源:學(xué)術(shù)之家整理 2025-03-18 15:36:50
《Ieee Transactions On Semiconductor Manufacturing》中文名稱(chēng):《半導(dǎo)體制造的IEEE交易》,創(chuàng)刊于1988年,由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版商出版,出版周期Quarterly。
《IEEE 半導(dǎo)體制造學(xué)報(bào)》致力于解決制造復(fù)雜微電子元件(尤其是超大規(guī)模集成電路 (VLSI))的難題。制造這些產(chǎn)品需要精密微圖案化、精確控制材料特性、超潔凈工作環(huán)境以及化學(xué)、物理、電氣和機(jī)械過(guò)程的復(fù)雜相互作用。
旨在及時(shí)、準(zhǔn)確、全面地報(bào)道國(guó)內(nèi)外PHYSICS, APPLIED工作者在該領(lǐng)域的科學(xué)研究等工作中取得的經(jīng)驗(yàn)、科研成果、技術(shù)革新、學(xué)術(shù)動(dòng)態(tài)等。
機(jī)構(gòu)名稱(chēng) | 發(fā)文量 |
SAMSUNG | 14 |
GLOBALFOUNDRIES | 11 |
SAMSUNG ELECTRONICS | 10 |
KOREA ADVANCED INSTITUT... | 8 |
UNIVERSITY OF NORTH CAR... | 8 |
INTEL CORPORATION | 7 |
NATIONAL TSING HUA UNIV... | 7 |
SKYWORKS SOLUT INC | 7 |
ASML HOLDING | 6 |
IMEC | 6 |
國(guó)家/地區(qū) | 發(fā)文量 |
USA | 83 |
South Korea | 40 |
CHINA MAINLAND | 38 |
Japan | 29 |
Taiwan | 25 |
GERMANY (FED REP GER) | 15 |
Belgium | 6 |
India | 6 |
Netherlands | 6 |
Singapore | 6 |
文章引用名稱(chēng) | 引用次數(shù) |
Wafer Map Defect Pattern Cla... | 41 |
Classification of Mixed-Type... | 24 |
Hybrid Particle Swarm Optimi... | 23 |
Convolutional Neural Network... | 22 |
AdaBalGAN: An Improved Gener... | 15 |
A Voting Ensemble Classifier... | 15 |
Epitaxial beta-Ga2O3 and bet... | 15 |
Decision Tree Ensemble-Based... | 13 |
A Data Driven Cycle Time Pre... | 12 |
Deep-Structured Machine Lear... | 12 |
被引用期刊名稱(chēng) | 數(shù)量 |
IEEE T SEMICONDUCT M | 182 |
IEEE T AUTOM SCI ENG | 79 |
IEEE ACCESS | 48 |
ECS J SOLID STATE SC | 33 |
COMPUT IND ENG | 24 |
INT J PROD RES | 20 |
J MANUF SYST | 17 |
COMPUT IND | 16 |
IEEE T ELECTRON DEV | 16 |
INT J ADV MANUF TECH | 16 |
引用期刊名稱(chēng) | 數(shù)量 |
IEEE T SEMICONDUCT M | 182 |
INT J PROD RES | 33 |
EXPERT SYST APPL | 30 |
IEEE T AUTOM SCI ENG | 25 |
J APPL PHYS | 19 |
JPN J APPL PHYS | 18 |
APPL PHYS LETT | 17 |
J ELECTROCHEM SOC | 16 |
J MACH LEARN RES | 16 |
CHEMOMETR INTELL LAB | 15 |
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